Los sistemas Micro Raman de DXG permiten obtener información estructural y composicional de materiales a escala micrométrica, sin preparación de muestra y de forma no destructiva. La medición simultánea de fotoluminiscencia (PL) amplía las capacidades del sistema para la caracterización de propiedades electrónicas y ópticas de semiconductores, nanomateriales y materiales 2D.
Aplicaciones principales:
- Identificación y caracterización de materiales cristalinos y amorfos
- Análisis de tensiones y deformaciones en semiconductores
- Caracterización de grafeno, MoS₂ y otros materiales 2D
- Control de calidad en películas delgadas y recubrimientos
- Investigación en fotónica y ciencia de materiales